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波长调谐式干涉条纹分析系统
面议机械相移式干涉条纹分析系统
面议INF25-LPINF25-LP盖板干涉仪
面议INF60-LPINF60-LP激光平面干涉仪
面议INF150-LPINF150-LP激光平面干涉仪
面议INF450-LP-WMINF450-LP-WM激光平面数字干涉仪
面议INF150V-LPINF150V-LP激光数字平面干涉仪
面议INF300V-LPINF300V-LP激光平面干涉仪
面议INF200V-LPINF200V-LP激光平面干涉仪
面议INF600-LP-WMINF600-LP-WM激光平面干涉仪
面议INF300H-LP-WMINF300H-LP-WM激光平面干涉仪
面议INF800-LP-WMINF800-LP-WM激光平面数字干涉仪
面议立式结构,小型化
操作方便,使用简单
各类中小透镜,球面反射镜的光学表面面型测量
测量方式:菲索干涉原理
通光口径:Φ60mm(平面)
测试波长:635nm(半导体激光器)
对准方式:简单两点对准
对准视场:±0.5度
平面标准镜精度:PV:λ/20
球面标准镜精度: PV:λ/10
球面标准镜:F0.7,F1.0,F2.0,F2.8,定制镜头