INF450-LP-WM激光平面数字干涉仪

INF450-LP-WMINF450-LP-WM激光平面数字干涉仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-08-26 16:21:02
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成都太科光电技术有限责任公司

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产品简介

INF450-LP-WM激光平面数字干涉仪产品型号:INF450-LP-WM成像质量良好,结构简洁卧式结构,双端口测量操作方便,使用简单波长调谐相移解相分析系统

详细介绍

  • 用途
  • 技术参数

1、双端口检测;
2、大口径元件面形检测;
3、测量光学元件的材料均匀性;
4、平行平板元件多表面测试;
5、元件面形分析,光学数据处理。

序号

指标名称

指标参数

1

测试结构

卧式双端口;

2

测试口径

大端口:有效口径≥φ450mm

小端口:有效口径≥φ100mm

3

相移方式

QPS波长调谐相移或机械相移解相;

4

测试光源

波长调谐相干光源,λ=632.8nm,相干长度≥100m

可选氦氖相干光源,λ=632.8nm用于机械相移

5

CCD指标

可选分辨率1.2K×1.2K或分辨率2.3K×2.3K

或分辨率3.4K×3.4K

6

φ800mm标准楔形镜(TF镜)

标准面面形:PVr优于λ/20,中频误差PSD1小于0.9nm,进口熔石英材料;

7

φ800mm标准反射镜(RF镜)

标准反射面面形:PVr优于λ/20,中频误差PSD1小于0.9nm,进口微晶材料;

8

系统传递函数

ITF 0.7 @ 0.4 mm-1φ450mm大端口系统);

9

系统精度

系统精度:系统空腔精度PVr优于λ/15,中频误差PSD1小于0.9nm(φ800mm有效口径内);

10

系统重复性精度

系统重复性精度:系统RMS重复性优于λ/20002σ);

11

调焦范围

调焦范围:光瞳调焦范围≥±2m

12

ZOOM变焦

1-6X光学变焦(1.2K

1X光学变焦,50X数字变焦(2.3K/3.4K)

13

测试对准方式与角度

测试对准方式与角度:快对准与精密对准方式,对准角度≥±15°/±3°;

14

波长调谐相移分析软件

输出峰谷值(PV)、标准偏差(RMS)、等高图、X-Y剖面图、三维立体图、干涉条纹图、MTF(光学传递函数)PSF(点扩散函数),泽尔尼科多项式分析、赛德尔相差分析等;

分析软件可进行矩形、椭圆、正方形、圆、多边形等数据分析功能;

平行平板类元件测试功能(样品无需特殊处理),一次干涉条纹数据采集可同时得到,平行平板前表面面形、后表面面形,光学厚度变化;

具有材料均匀性测试分析功能;

15

标准反射镜支撑调节

二维手动与电控角度调节,整体结构气浮大范围移动;

16

测试工装

两维角度调节,一维平移调节,大范围气浮调节;

17

气浮隔振平台

隔振平台,尺寸3800mm×1500mm


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