INF25-LP盖板干涉仪

INF25-LPINF25-LP盖板干涉仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-08-26 16:30:41
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成都太科光电技术有限责任公司

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产品简介

INF25-LP盖板干涉仪产品型号：INF25-LP主要用于手机盖板、晶体、平行平板等双面抛光元件的透射及反射面型测试！

详细介绍

  • 特点
  • 用途
  • 技术参数

1.快速检测，测试时间短；

2.可接入自动化生产线；

3.适应多种测试。

手机盖板、平板玻璃等元件的透射面型检测；

小口径平面光学元件的面型测试。

测量方式：斐索干涉原理

通光口径：Φ12mm/Φ25mm

测试波长：635nm(半导体激光器)

对准方式：两点对准

对准视场：±2°

平面标准镜：材料：石英；面型精度PV：λ/20

相移解相方式：机械相移解相


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