INF600-LP-WM激光平面干涉仪

INF600-LP-WMINF600-LP-WM激光平面干涉仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-08-26 16:07:59
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成都太科光电技术有限责任公司

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产品简介

INF600-LP-WM激光平面干涉仪产品型号:INF600-LP-WM双端口检测大口径平面元件面型检测光学材料均匀性测量元件面型分析,光学数据处理

详细介绍

  • 特点:
  • 用途:
  • 技术参数:

成像质量良好,结构简洁

卧式结构,双端口测量

操作方便,使用简单

波长调谐式条纹分析系统


双端口检测

大口径平面元件面型检测

光学材料均匀性测量

平行平板元件多表面测试

元件面型分析,光学数据处理


序号

指标名称

指标水平

1

测试方式

双端口卧式结构

2

有效测试口径

大端口Φ600mm;小端口Φ100mm

3

相移方式与测试波长

波长调谐光源,波长632.8nm(可选1064nm,1053nm等)

4

调焦

光瞳调焦范围大于±2.0m

5

变焦

1X光学变焦+50X数字变焦

6

探测器

分辨率1.2K×1.2K 或2.3K×2.3K 或3.4K×3.4K

7

仪器传递函数(ITF)

0.70 @ 0.6 cycles/mm

8

φ600mm标准楔形镜(TF镜)

PV优于λ/15,RMS优于λ/80,PSD1小于0.70nm

9

φ600mm标准反射镜(RF镜)

PV优于λ/15,RMS优于λ/80,PSD1小于0.70nm

10

系统空腔精度

PV优于λ/14,RMS优于λ/80,PSD1小于0.70nm

11

系统重复性精度

RMS重复性精度:<λ/2000(2σ)

12

系统稳定性

24小时测试,系统空腔精度与重复性均达到第10,11项精度指标

13

系统可靠性

平均工作时间大于1000小时,连续工作时间大于48小时

14

分析系统

QPS快速抗振波长调谐随机相移分析系统

15

平行平板分析

多波长扫描平行平板分析功能,厚度范围1mm-5m

16

材料光学均匀性分析

四步法材料均匀性测量分析

17

测试对准方式与角度

快速对准角度>±15°,测试操作时间小于2min

18

测试工装

两维角度调节,一维平移调节,气浮大范围调节


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