INF300H-LP-WM激光平面干涉仪

INF300H-LP-WMINF300H-LP-WM激光平面干涉仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-08-26 16:04:54
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成都太科光电技术有限责任公司

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产品简介

INF300H-LP-WM激光平面干涉仪产品型号:INF300H-LP-WM测量光学平面面型精度测量光学元件的材料均匀性对干涉条纹进行数据分析处理,给出检验报告

详细介绍

  • 特点:
  • 用途:
  • 技术参数:

成像质量良好,结构简洁

立式结构

操作方便,使用简单

波长调谐式条纹分析系统


测量光学平面面型精度

测量光学元件的材料均匀性

对干涉条纹进行数据分析处理,给出检验报告


测量结构:菲索干涉卧式结构

通光口径:小端口:φ100mm;大端口二:φ300mm

测试光源:半导体调谐激光光源,λ=632.8nm;

相机:分辨率1024×1024

φ100mm标准楔形镜(TF镜):PV优于λ/20(φ100mm内)

φ300mm标准楔形镜(TF镜):PV优于λ/20;

φ300mm标准反射镜(RF镜):PV优于λ/20;

系统精度:PV值 λ/20;

系统重复性精度:RMS重复性优于λ/2000;

ZOOM变焦:1-6X连续变焦;

测试对准方式与角度:快对准与精密对准方式,对准角度≥±15°/±3°

尺寸:2400×1200×500mm

重量:约260Kg


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