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面议| 二次元粗度 | |
|---|---|
| 测定规格 | JIS(2001/94/82) 、 DIN、 ISO 、 ASME |
| 测定范围 | Z:1200um X:100mm |
| 扩大倍率 | Z:50~500,000 X:1~5,000 |
| 记录 | 自由编辑记录结果并可输出PDF档 |
| 触针/测定力 | R2um、 0.75mN |
| 三次元粗度 | |
| 测定范围 | Z:1200um X:100mm Y:50mm |
| 取样最小间隔 | X、Y都为1um |
| 记录 | 彩色记录（鸟瞰图、微分浓淡图等）、粒子解析，三次元粗度参数解析多种 |
| 触针/测定力 | R2um 0.75mN |
| 轮廓形状 | |
| 解析项目 | 要素/方位向量/非球面/滚珠螺杆/MASTER比较 |
| 测定范围 | Z:60mm X:100mm |
| 触针/测定力 | R25um 30mN以下 |
