NANOMAP-LS 探针式三维形貌仪
NANOMAP-LS 探针式三维形貌仪
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NANOMAP-LS 探针式三维形貌仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-07-05 14:22:28
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北京亿诚恒达科技有限公司

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产品简介

简介:
美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的*供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。公司始终致力于微观表面“三维”检测技术和设备的研发及推广,历经近十年努力,已为30多个国家提供NanoMap系列三维表面形貌测量系统。
NanoMap-LS三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料

详细介绍

特点:
1.     全自动软件控制
2.     0.1到100 mg接触力
3.     垂直分辨率可达0.1nm 。
4.     每次扫描zui少1 0 0点,zui多可达1 5 0 ,0 0 0数据点
5.     一体化彩色摄像机在扫描同时可直接观察样品
6.     简单一键操作与用户友好的操作界面
 
应用领域:
测量表面可以覆盖多种材料表面:金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,对于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高,稳定性好。热噪声是同类产品zui低的。
 
主要技术参数
垂直分辨率: 0.1nm
重复性: 0.54 nm(1Sigema @1um)
垂直范围: 524um(1mm可选)
扫描范围: 150mm x 150mm
 

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