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NANOMAP D 光学探针双模式三维形貌仪
面议NANOMAP-LS 探针式三维形貌仪
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面议NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪技术特点
常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的*结合。
双模式操作（针尖扫描和样品台扫描），即使在长程测量时也可以得到*化的小区域三维测图。
针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式，三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。
在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察。
针尖扫描采用双光学传感器，同时拥有宽阔测量动态范围（zui大至500μm）及亚纳米级垂直分辨率 （zui小０.１nm ）
软件设置恒定微力接触。
