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NANOMAP D 光学探针双模式三维形貌仪
面议NANOMAP-LS 探针式三维形貌仪
面议PAT-Tester-i-16EL-CELL 16通道电池测试系统PAT-Tester-i-16
面议ECD-3EL-CELL电化学膨胀计ECD-3
面议ECC-CellLoad测压仪
面议探针式轮廓仪/三维形貌仪
面议非接触3D光学轮廓仪Bruker ContourGT 非接触3D光学轮廓仪
面议三维光学显微镜Contour Elite三维光学显微镜
面议光学探针双模式轮廓仪光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
面议电化学工作站模拟软件DigiElch™ 电化学工作站模拟软件
面议RDE710旋转圆盘电极RDE710旋转圆盘电极
面议多功能摩擦磨损试验机
面议DektakXT *设计
探针系统的评价体系受三个因素影响:能否重复测量,数据采集和分析速度快慢,操作的难易程度。这些因素直接影响了数据的质量和操作效率。DektakXT利用全新结构和和*软件来实现可重复、时间短、易操作这三个必要因素,达到*的仪器使用效果。
强化操作的可重复性 Delivering Repeatable Measurements
DektakXT在设计上的几个提高,使其在测量台阶高度重复性方面具有优异的表现,台阶高度重复性可以到达5?.使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更坚硬持久不易弯曲损坏,而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。同时,Bruker还对仪器的智能化电子器件进行完善,提高其稳定性,降低温度变化对它的影响,并采用*的数据处理器。在控制器电路中使用这些灵敏的电子元器件,会把可能引起误差的噪音降到zui低,DektakXT的系统因此可以更稳定可靠的实现对高度小于10nm的台阶的扫描。Single-arch结构和智能器件的联用,大大降低了扫描台的噪音,增强了稳定性,使其成为一个竞争力的台阶仪(表面轮廓仪)。