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NightN光学表面形貌测试仪HION
产品介绍：
光学测试仪HION用于光学表面测试。该技术基于 Shack-Hartmann 方法。激光束从被测光学表面反射并进入 Shack-Hartmann 波前传感器进行进一步处理。
产品规格：
1. 光学孔径：10 至 50 mm（可选300 mm）
2. 测量时间：10 ms
3. 测量精度：32 nm (P-V)
4. 测量偏差：5 µm（P-V）
5. 光源：二极管激光器
6. 光源波长：0.65 µm
7. CCD/CMOS相机
结果输出：
1. 峰-谷误差P-V，均方根（RMS）
2. 将像差展开为Seidel 和 Zernike 多项式（倾斜、散焦、像散等）
3. 2D 和 3D 波前，干涉条纹
NightN光学表面形貌测试仪HION
