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SE-RD-STD系列Radiation 全光谱椭偏仪
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SR-RD-STD系列Radiation 全光谱反射仪
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8”-12” Fully Automatic Tape SawZV SAW Machine-TS1261 （博磊切割机系列-TS1261）
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REF100KOSAKA 轮廓仪 | 轮廓形状测定机
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µsprint hp-hsi 2000NanoFocus | 半导体晶圆检测设备（人工装载）
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EF650KOSAKA 轮廓仪 | 轮廓形状测定机
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µsprint hp-hsi 2000NanoFocus | 半导体晶圆检测设备（全自动集成型）
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SEF781DKOSAKA 表面粗度轮廓形状测定机
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EF651DKOSAKA 轮廓仪 | 轮廓形状测定机
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EF550A-M50/-M58KOSAKA 轮廓仪 | 轮廓形状测定机
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EC1550HKOSAKA 真圆度仪 | 圆柱度测定机
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EC1850P/EC3300PKOSAKA 真圆度仪 | 圆柱度测定机
面议| 测定参数 | Ra、Rp、Rz等、63种类 |
|---|---|
| 测定范围/分解能 | Z：800μm/0.0064μm |
| 测定长度 | X：25mm |
| 测定倍率 | 纵：100~100,000、AUTO 横：1~1,000 |
| 传感器 | PU-A6、触针交换式、标配触针：R2μm60° |
小坂研究社SE 300是一款的体积小、携带方便的表面粗糙度测量仪。被广泛应用于工厂车间，实验室以及计量单位。可对多种零件表面的粗糙度、波纹度以及原始轮廓进行多参数评定。是一款带专用控制器的高精度、高性能、袖珍型表面粗糙度测量仪。操作简单，显示一目了然。
