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SE-RD-STD系列Radiation 全光谱椭偏仪
面议SR-RD-STD系列Radiation 全光谱反射仪
面议8”-12” Fully Automatic Tape SawZV SAW Machine-TS1261 (博磊切割机系列-TS1261)
面议REF100KOSAKA 轮廓仪 | 轮廓形状测定机
面议µsprint hp-hsi 2000NanoFocus | 半导体晶圆检测设备(人工装载)
面议EF650KOSAKA 轮廓仪 | 轮廓形状测定机
面议µsprint hp-hsi 2000NanoFocus | 半导体晶圆检测设备(全自动集成型)
面议SEF781DKOSAKA 表面粗度轮廓形状测定机
面议EF651DKOSAKA 轮廓仪 | 轮廓形状测定机
面议EF550A-M50/-M58KOSAKA 轮廓仪 | 轮廓形状测定机
面议EC1550HKOSAKA 真圆度仪 | 圆柱度测定机
面议EC1850P/EC3300PKOSAKA 真圆度仪 | 圆柱度测定机
面议三次元粗度 | SE600K31 |
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测定范围 | Z 1200um X 100mm Y 50mm |
取样最小间隔 | X,Y都力1μm |
记录 | 彩色记录(鸟瞰图、微分浓淡图等) 粒子解析、三次元粗度参数解析多种 |