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该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米，最小可探测到-80dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。
产品特点：
超高采样分辨率和定位精度
超宽动态范围
可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境
可定制扫描测量长度
支持多通道测量升级
主要应用：
光纤微裂纹检测
硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
FA光纤阵列链路性能检测
光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
参数：
| 主要参数 | ||
| 基础参数 | ||
| 工作波长 1 | 1290 ~ 1330 | nm |
| 测量长度 2 | 6 | cm |
| 采样分辨率 | 1 | μm |
| 长度分辨率 | 0.1 | mm |
| 测量时间 | ＜10 | s |
| 动态范围 | -10 ~ -80 | dB |
| 硬件 | ||
| 输入电压 | AC 220/110V；DC 12V | - |
| 主机功率 | 50 | W |
| 通讯接口 | USB | - |
| 引纤长度 3 | 1 | m |
| 光纤接口 | FC/APC | - |
| 尺寸 | D 390 * W345 * H165 | mm |
| 重量 | 7.5 | kg |
| 储藏温度 | 0 ~ 50 | ℃ |
| 工作温度 | 0 ~ 40 | ℃ |
| 工作湿度 | 10 ~ 70 | %RH |
可选其它波段；
可选配12cm或定制其他长度；
引纤长度可定制。
