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OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用*的光路设计以及*算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。
产品特点：
自校准
测量长度：200m
波段：C+L、O波段（可选）
1秒内测量多种光学参数
主要应用：
平面波导器件
平面波导器件
硅光器件
光纤器件
波长可调器件、放大器、滤波器
测量参数：
偏振相关损耗PDL
偏振模色散PMD
插损IL
群延时GD
色散CD
琼斯矩阵参数
光学相位
参数：
