OCI-T光学器件分析系统
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武汉东隆科技有限公司
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OCI-T光学故障测量仪具有功能齐全、性价比高等特点,可实现从器件到光学链路全范围的精确插损、回损、长度测量。长度测量范围为10m,精度可达毫米量级,空间分辨率为20μm。非常适用于定量分析,品质监测及故障诊断。
产品特点:
空间分辨率:20μm
测量长度:20m
中心波长:1550nm
插损、回损分析
主要应用:
无源器件插损、回损测量
硅光芯片插损、回损测量
平面波导器件测试
光学链路分析、诊断
参数:
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