EVM-2515T半自动影像测量仪(同轴光)

EVM-2515T半自动影像测量仪(同轴光)

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-12-16 17:10:20
2582
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测量方式:接触式;
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测量方式
接触式
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宁波怡信光电科技有限公司

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产品简介

EVM-2515T半自动影像测量仪(同轴光)性能好、精度高、半自动影像测量仪功能全面,自动对焦、可选配全自动变倍镜头的特点,是本公司高性能及价格比的影响测量仪。

详细介绍

EVM-2515T半自动影像测量仪(同轴光)

EVM系列优势:

EVM系列,性能好、精度高、半自动影像测量仪功能全面,自动对焦、可选配全自动变倍镜头的特点,是本公司高性能及价格比的影响测量仪。

EVM系列的影像系统采用高清数字工业CCD为基础,提升影像对比度的DSP后处理测量专业的摄影机,配以本公司自行研发的远心光学镜头。组合成一套性能高的影像测量系统,在同一放大倍数时,高清数字工业测量摄像机的影像清晰度和对比度是高于一般的1/3CCD。

EVM系列以00级精度高的大理石作机身的支架,配上精度高的工作台,X,Y,Z三轴均装有分辩力为0.01μm的绝对式光栅尺测量系统。

EVM系列配备由本公司自行开发,功能全面,使用简单的全功能测量软件,测量结果可以图档DXF格式输出至各类通用的CAD软件,如AUTO CAD,MASTERCAM灯带,方便用户用于直接抄数,相反也可以输入其中作直观测量比较。

EVM系列标配本公司自行开发,使简单的SPC统计分析软件,使用户可以轻松对其加工流程进行科学化分析,从而轻易地找出流程中的误差趋势,以及工序中存在的问题。所有测量结果均可输出至通用的办公软件,如EXCEL、WORD等格式,方便用户保存,编制质量检测报告,或作进一步的处理。


一、技术参数


规格型号: EVM-2515T

测量范围(mm)

外形尺寸(mm)

主机重量(Kg)

最大承受重量(Kg)

X

Y

Z

L

W

H

250

150

150

1350

800

1520

170

20

测量精度

光学一维长度测量误差:EU X/Y(1D)(μm)

2.0+L/200  MPE符合JJF 1318-2011

光学二维长度测量误差:EU XY(2D)(μm)

2.5+L/200  MPE符合JJF 1318-2011

光学Z轴长度测量误差:EU Z (μm)

3.5+L/200  MPE符合JJF 1318-2011

二维探测误差:PF2D(μm)

2.0        MPE符合JJF 1318-2011

影像测头探测误差:PFV2D(μm)

2.0        MPE符合JJF 1318-2011

 

序号

名称

规格及说明

1

主机及机台

机身主体采用高精密天然花岗岩,具有稳定的温度特性和抗时效变形能力

2

控制系统

USB网络板,保证机器的平稳安全

3

Easson测量软件系统

自动版光学视觉量测软件

4

相机

130万数字高清网络相机

5

光栅尺

0.01μm绝对光栅

6

导轨

三个轴采用精密级滚珠丝杆导轨,速度有大提升,而且运作平稳

7

电机

直流伺服电机

8

镜头

怡信Easson自主设计TC精密多段定倍自动变倍自动变焦远心镜头(标配同轴光)实际倍率:30-145×

9

照明系统

5环8区LED冷光源各段独立操控,256级亮度可调

10

品牌电脑

WIN7/WIN10

23.8高清

11

操作方式

232控制盒、鼠标拖运、键盘控制

12

测头

雷尼绍MCP测头(含Φ1、Φ2测针各壹根) 




二、环境条件及要求


影像仪室温度要求:

房间温度 (温控间)   

18~22°C

温度梯度(时间)

1°C /h

温度梯度(时间)

2°C /24h

温度梯度(空间) 

1°C /m

影像仪室湿度要求:

空气相对湿度

40-70%

电源要求:

电压

220V ± 10%

频率

50/60 Hz

震动

15Hz以下<0.001g

耗电量

1000VA

用电设备要求接地可靠:接地电阻小于4欧姆


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