ZEISS METROTOM 用于质量保证的三维 X 射线测量技术
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。

功能特点
1）测量与检验整体部件
ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。

2）轻松且精准地进行多样化特征检测
利用 ZEISS METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。

3）直观简易的软件操作
仅需通过短时间的 ZEISS METROTOM OS 软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用 ZEISS CALYPSO 可评估 CT 数据，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。

应用：
几何坐标测量面向的对象是多变的，甚至是不可预测的。但从具体测量方法来看，还是有其规律可循。目前对于测量对象的分类有几种，有的按行业分，如汽车行业、航空航天行业等。METROTOM主要应用有：
1）塑料类零件检测
2）轻金属类工件检测等

软件

ZEISS CALYPSO针对规则几何形状的通用测量软件
1）主要性能概述
自动移动路径
有效率的自动化测量操作，没有不必要的特征记录
ZEISS CALYPSO PMI：在 CAD 模型上使用产品和测量信息，来自动生成测量程序
包含 ZEISS PiWeb reporting: 专业又有互动性
用于控制非蔡司测量机的 I++ DME 接口
2）一种专门的解决方案
图纸会显示必须测量哪些特征；尺寸、位置公差值和形状误差。 和其他测量程序不同的是，在 ZEISS CALYPSO 里，这些特征也是编程的起始点。准确到几微米产品测量程序简单易学，有针对性，也有效率。
特征所需的几何特性，例如：圆、线或面，ZEISS CALYPSO 会分别管理。将特征和特性分离，可让 ZEISS CALYPSO 更有灵活性、更快速，操作上也更简单。
3）更有灵活性
简单和方便地产生测量程序 – 且可依用户期望的顺序进行。
可轻易地在测量程序中变更测量操作的顺序。
从部件图纸中选择任何特性，即可让 ZEISS CALYPSO 立即执行自动部分测量。

ZEISS CALYPSO PMI： 自动生成测量程序

4）使用 ZEISS CALYPSO PMI 自动从 CAD 模型到测量程序
标准 ZEISS CALYPSO 套件包含比较新 ZEISS CALYPSO PMI 功能。 PMI 是 Product and Manufacturing Information（产品和制造信息）的缩写。借由 ZEISS CALYPSO PMI，CAD 模型中所含的尺寸、形状和位置公差值等产品和制造信息可自动以测量计画的方式执行，因此可大幅降低用户的工作负荷。

5）包含 ZEISS PiWeb reporting

ZEISS PiWeb reporting 包含在 ZEISS CALYPSO 的出货范围内。 用户可使用报表模板或生成自己的报告或模板。ZEISS PiWeb reporting plus 的选项可让用户所含的统计功能从 10 次增加到 1,000 次测量。ZEISS PiWeb sbs 和 ZEISS PiWeb 企业版套件提供用户一整套网络化质量数据管理系统。