半导体晶圆热电偶测温TC Wafer晶圆测温系统
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半导体晶圆热电偶测温TC Wafer晶圆测温系统

半导体晶圆热电偶测温TC Wafer晶圆测温系统

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2023-10-17 14:42:22
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测量对象:温度;产地:国产;
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温度
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上海智与懋检测仪器设备有限公司

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产品简介

智测电子拥有全套传感器生产、加工与检测设备,拥有高精度温度传感器的生产、研发和产品定制能力,为半导体装备、航空航天、智能制造、高校实验室、计*院所、生物技术等行业用户提供专业的高精度测温解决方案。
半导体晶圆热电偶测温TC Wafer晶圆测温系统

详细介绍

半导体晶圆热电偶测温TC Wafer晶圆测温系统

工作原理

TC Wafer晶圆热电偶温度传感器通过探针与晶片之间的热电偶效应来测量温度。热电偶是一种基于热电效应的传感器,它可以将温度转化为电压信号。当探针与晶片接触时,热电偶会产生一个电压信号,该信号被控制器接收并转换成数字信号。然后,数字信号被发送到显示屏上进行显示。


在半导体工艺中,TC Wafer晶圆热电偶可用于多种应用场景,包括光刻、刻蚀、薄膜沉积等。其能够实现精确的温度控制,从而提高工艺的稳定性和准确性,提高产品的质量和性能。此外,其还可以用于废料处理和设备维护等,提高生产效率和成本效益

智测电子拥有全套传感器生产、加工与检测设备,拥有高精度温度传感器的生产、研发和产品定制能力,为半导体装备、航空航天、智能制造、高校实验室、计*院所、生物技术等行业用户提供专业的高精度测温解决方案。

应用领域

晶圆制备过程: 在半导体晶圆的制备过程中,各个步骤需要在特定的温度范围内进行,以确保晶圆质量。晶圆热电偶温度传感器可以在切割、清洗、薄膜沉积等工艺步骤中监测温度变化,帮助工程师优化制程参数,提高产品的一致性和稳定性。

薄膜沉积: 在芯片制造过程中,薄膜沉积是至关重要的步骤。不同材料的薄膜需要在精确的温度下沉积到晶圆表面,以保证薄膜的质量和性能。晶圆热电偶温度传感器可以即时监测薄膜沉积过程中的温度变化,以避免过热或过冷对薄膜性能产生不利影响。

退火和热处理: 在芯片制造的最终阶段,退火和热处理是为了调整晶体结构和减少缺陷。通过在这些步骤中使用晶圆热电偶温度传感器,可以确保温度控制在合适的范围内,从而保证芯片的电性能和稳定性。

测试与封装: 芯片的最终测试和封装也需要严格的温度控制。晶圆热电偶温度传感器可以在这些环节中监测温度变化,保障芯片的性能和可靠性。

产品优势

实时性:可以实时监测温度变化,及时进行调整。

高精度:在制程过程中,高精度的温度控制对于芯片性能至关重要。

可嵌入性:可以嵌入晶圆内部,不会影响制程。

长期稳定性:通常具有较好的长期稳定性。

半导体晶圆热电偶测温TC Wafer晶圆测温系统


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