表面掃描雷射共焦位移計

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2022-06-10 16:58:34
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产品简介

高精密度雙掃描方式0.3 µm 的高解析度可測定所的對象物追求現場操作的便利性使用途更為廣泛的多樣化測定模式

详细介绍

產品特性

  • 高精密度雙掃描方式
  • 0.3 µm 的高解析度可測定所的對象物
  • 追求現場操作的便利性
  • 使用途更為廣泛的多樣化測定模式

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