SP932U光束分析儀(光斑分析)Beam Profiler

SP932U光束分析儀(光斑分析)Beam Profiler

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2022-06-03 11:56:25
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产品简介

SP932U光束分析儀(光斑分析儀)BeamProfiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長

详细介绍

Ophir
SP932U光束分析儀(光斑分析儀) Beam Profiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長。設計緊湊、動態範圍寬，並具有極為出色的信噪比和USB 3.0接口，使其成為測量CW和脈衝雷射的理想選擇。
  • 2048 x 1536像素分辨率，含3.45µm像素間距
  • 全分辨率下為24 fps
  • 包括BeamGage標準或專業軟體
SP932U光束分析儀/光斑分析儀 特點
  • 符合ISO標準
  • 採用獲得技術的UltraCal演算法，精度的測量儀
  • 採用“自動設置”和“自動曝光”功能進行快速設置和精度優化
SP932U光束分析儀/光斑分析儀 測量參數
  • 光斑形狀/尺寸大小
  • 二維/三維空間強度分佈
  • 直徑D4α(D4αM長軸/D4αm短軸)
  • 質心位置(X,Y座標)
  • 長寬比
  • 峰值位置
  • 發散角量測
SP932U光束分析儀/光斑分析儀 主要參數
  • Wavelengths：190-1100nm
  • Beam Sizes：34.5μm – 5.3mm
  • Interface：USB 3.0
  • Sensor Type：Silicon CCD
  • Compatible Light Sources：CW, Pulsed
需要Win10(64 Bit或更高版本)
SP932U光束分析儀/光斑分析儀
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