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面议在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时，XUL® 系列测量仪器是您的解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。
特性：
● 凭借宽大的测量室和自下而上的测量方向，即使大型样品（如：印制电路板或柔性电路板）也可简便、快速地定位
● 硬件选项丰富多样，可满足各种测量需求
● 可选配微聚焦 X 射线管，从而可测量直径仅为 100 µm 的微型结构和测量表面
应用：
● 铬镀层，如：经过装饰性镀铬处理的塑料制品
● 防腐蚀镀层，如钢材上的锌镀层
● 印制电路板和柔性电路板上的镀层
● 接插件和连接器上的镀层
● 电镀槽液分析
