蔡司SIGMA FE-SEM用于高质量成像和高级分析显微镜

　　蔡司Sigma 300具有**的价格和性能。借助ZEISS Sigma 500一*的EDS几何结构，可以快速，方便地完成元素分析。依靠精确，可重复的结果–每次都能从任何样品中获得结果。

　　灵活的检测4步骤工作流程，高级分析

　　将场发射SEM(FE-SEM)技术与分析相结合。受益于久经考验的双子座电子光学器件。从多种检测器选项中进行选择：材料科学中的图像颗粒，表面和纳米结构，研究半导体或医疗设备，地质或生物样品。Sigma的半自动4步工作流程可节省时间：结构化成像和分析程序并提高生产率。研究和工业实验室中所有学科的FE-SEM用户现在都受益于ZEISS Sigma 500在1 kV下1.3 nm的分辨率和更好的可用性。

　　灵活检测清晰图像

　　使用*新的检测技术根据您的需求定制Sigma，并对所有样品进行表征。

　　使用环形背向散射检测器(aBSD)表征成分，晶体学和表面形貌。在所有真空条件下，它都能提供出色的低kV图像。受益于更高的灵敏度，更高的信噪比和更快的速度。

　　享受新一代的二次电子(SE)检测器。在可变压力模式下受益于Sigma的C2D和VPSE检测器：在低真空下工作，您可以得到清晰的图像，对比度*高可提高85%。

　　自动化并加快工作流程

　　4个步骤的工作流程使您可以控制Sigma的所有功能。受益于快速的成像时间并节省了培训时间-尤其是在多用户环境中。

　　首先，浏览样品，然后设置*佳成像条件。

　　接下来，利用感兴趣区域(ROI)自动获取多个样本中的图像。最后，使用工作流程的后一步对结果进行上下文可视化。

　　最后，SmartSEM Touch收集并以交互式地图的形式显示您的数据，以便您可以*理解样品。

　　执行高级分析显微镜

　　结合扫描电子显微镜和元素分析：Sigma一*的EDS几何形状可提高您的分析效率，尤其是在对光束敏感的样品上。

　　以一半的探针电流和两倍的速度获得分析数据。

　　在您的FE-SEM中实现完整，无阴影的分析。使用8.5 mm的短分析工作距离和35°的起飞角，可从中获利