花岗石底座二维轮廓度测量仪
花岗石底座二维轮廓度测量仪

CLY-200B花岗石底座二维轮廓度测量仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-11-16 14:33:46
1345
属性:
产地:国产;类型:二维轮廓仪;
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产品属性
产地
国产
类型
二维轮廓仪
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北京海普瑞森超精密技术有限公司

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产品简介

花岗石底座二维轮廓度测量仪CLY-200B可测量光学元件的轮廓度与光学方程的误差。可逆推光学方程,对未知表面具有逆推系数的分析能力。

详细介绍

花岗石底座二维轮廓度测量仪CLY-200B?技术参数

 

调整台  
平移台直径200mm  
平移台行程100mm

Y轴(滑动立柱)  
行程360mm  
运动直线度5µm

X轴(滑动横梁)  
行程200mm  
直线度2µm/200mm

气浮测头(测量臂长55mm)  
测量精度1µm  
测量矢高(zui大)10mm

 

花岗石底座二维轮廓度测量仪CLY-200B?使用环境要求

设备使用温度:20±2℃。一天内温度梯度小于3℃。

湿度:<65%。

空气压力:≥0.6MPa。

空气过滤精度:0.01um。除油、除水。

空气流量: ≥0.1m³/min。

 

CLY-200B?主要配置

 

花岗石底座,滑动横梁,滑动立柱,平移台。

气浮转轴测头(技术)。

测量臂可快速更换,测量力可微调。

 

CLY-200B?应用领域

二维轮廓度测量仪是光学元器件检测*的设备。可测量光学元件的轮廓度与光学方程的误差。可逆推光学方程,对未知表面具有逆推系数的分析能力。适合全线光学元器件的测量(包括陡峭、平坦或小矢高等光学元器件)。

 

 

 

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