195

• 品名 | 膜厚计

• 制造商 | 滨松光子学 (Hamamatsu Photonics)

• 型号 | C11011-01

• 年份 | -

• 外形尺寸(mm) | 宽 750 × 深 650 × 高 550

• 规格 |

• 测量方式：激光干涉法 激光等级：1 类

• 测量范围：10 - 900 μm

• 工作距离：155 mm 测量光波长：1.3 μm

• 输入电源：单相 AC 100V 50/60Hz