广东正业科技股份有限公司

机床商务网免费17

收藏

牛津仪器CMI165 说明

时间:2008-07-28      阅读:858

    CMI165带温度补偿功能的面铜测厚仪可测试高温的PCB铜箔- 显示单位可为mils,μm或oz- 可用于铜箔的来料检验- 可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试- 可用于电镀铜后的面铜厚度测试- 配有SRP-T1,带有温度补偿功能的面铜测试头- 可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试
SRP-T1:CMI165可更换探针  
上一篇: 牛津仪器CMI150 说明 下一篇: 牛津仪器CMI200 说明

下载此资料需要您留下相关信息

对本公司产品近期是否有采购需求?

提示

请选择您要拨打的电话: