CH-A塑料薄膜厚度仪 数显薄膜测厚仪

CH-A塑料薄膜厚度仪 数显薄膜测厚仪

参考价: 订货量:
1999 1

具体成交价以合同协议为准
2024-11-04 15:59:34
101
属性:
产地:国产;类型:其他试验机;售后保修期:12个月;销售区域:全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外;
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产品属性
产地
国产
类型
其他试验机
售后保修期
12个月
销售区域
全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外
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产品简介

CH-A数显台式数显测厚仪是用机械测量法测定,适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测量,但不是用于压花的薄膜和薄片。

详细介绍

CH-A数显台式薄膜厚度仪产品介绍

   CH-A数显台式数显测厚仪是用机械测量法测定,适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测量,但不是用于压花的薄膜和薄片。

CH-A数显台式薄膜厚度仪产品特点

1、结构科学合理,使用安全可靠

2、数字显示,直接读取测量结果

3、测量范围广,精度高

CH-A数显台式薄膜厚度仪产品应用

仪器主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试,还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试

CH-A数显台式薄膜厚度仪技术标准

GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》

ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》

CH-A数显台式薄膜厚度仪产品参数

1、测量范围:0~1mm

2、分辨率:0.001mm

3、测试面积:50 mm²

4、测头端部的力:

1)上测头的测量面为¢6mm平面,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.5~1.0N;

2)上测量面为(R15—R50)mm曲率半径,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.1~0.5N,相当于10.2gf-51gf

仪器正常工作的环境条件

1、室温:20℃±10℃。

2、工作环境清洁,无灰尘、油污和震动源,工作台平整稳固。

测厚仪,数显测厚仪,薄膜厚度仪,薄膜测厚仪



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