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BW-AH-5520博微BW-半导体温度循环实验系统
BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统采用特殊的结构设计，保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度 RTD 温度传感器进行精密控温及过温保护，并具有多重保护功能，可以对器件在不同温度下的性能进行精密测量分析及筛选。 参考价￥10001 -
BW-3022A博微BOWEI-便捷式晶体管直流参数测试仪
BWDT-3022A 型晶体管直流参数测试仪可测试三极管、MOS 场效应管、J 型场效应管、整流二极管、三端肖特基整流器、三端电压稳压器和基准器 TL431,为三极管、MOS 场效应管、J 型场效应管、二极管等提供了 15 种最主要参数的测试，以及参数”合格/不合格”(OK/NO)测试，用户通过机器上的按键很容易的把测试条件输入进去，并将参数存入EEPROM 中，便于日后方便且快速的打开调用 参考价面议 -
BW-4022A博微BOWEI-高精度半导体分立器件测试系统
BW-4022A 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进行精确测试,BW-4022A 设备采用大规模 32 位 ARM&MCU 设计， PC 中文操作界面，高压源1000--2500V：选配1.4KV-- 2KV，高流源40--500A ：选配 40A、100A、200A、300A及以上。 参考价面议