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HUSTEC-DC-2010半导体测试仪器
¥198HUSTEC-1600A-MT半导体测试设备
¥198HUSTEC-1600A-MTIGBT静态参数测试系统
¥198HUSTEC-1600A-MT特大功率IGBT测试系统
¥198HUSTEC-DC-2010分立器件测试设备
¥198HUSTEC-IFSM-1200A10ms浪涌电流测试仪
¥198HUSTEC-1600A-MTSIC静态参数测试仪
¥198HUSTEC-1600A-MTSIC模块测试仪
¥198HUSTEC-DC-2010半导体分立器件测试仪
¥198HUSTEC-1600A-MTIGBT综合特性测试仪
¥198HUSTEC-DC-2010分立器件静态参数测试仪
¥198HUSTEC-IFSM-1200A二极管浪涌测试仪
¥198激光开封机应用场景:失效分析
激光开封机解决问题:表面塑封材料难于去除的问题
功能要求:通过激光作用,可快速精准的进行半导体塑封器件的封装去除,露出基板上的WB(Wire bond,焊线/金线)甚至芯片层。
行业工艺流程—开封方式说明
行业工艺流程—目前流行的五种开封优缺点
行业工艺流程—普遍的加工方式
开封效果
激光开封流程
激光开封:利用激光对环氧树脂材料的烧蚀作用,使塑封层“汽化”,保留键合线和DIE。
化学开封流程
化学开封:针对不同的键合线类型有不同的腐蚀方法,聚合物树脂被腐蚀液腐蚀成易溶于丙酮的低分子化合物。在超声波的作用下,低分子化合物被清洗掉,从而暴露出芯片表面。
化学开封:全自动化学开封机一般需要国外进口,价格较高,交期为8周左右。配套激光开封,可以较大提升酸开封效率,使用手工即可解决die开封需求。
客户所需要的设备