晶体方位检测系统的特点：

1.实现角度测量的高精度化
根据独自的测角系统，实现高再现性和线性。
2.长期稳定性能
机构部具有很高的刚性和耐久性，能够长期维持稳定的性能。
3.采用X射线档案峰值检测功能
根据统计处理技术，采用X射线档案峰值检测方式，可获得高精度稳定的角度测量性能。
4.高速、高精度测量
不仅有4方位测量功能，还有2方位测量功能，测量时间只需要4方位测量的1/2。(不包括SU-001)
方位测量是用球面几何学精确求解结晶方位的X,Y倾斜度。为此以和4方位测定相同的精度求出。
5.X射线剂量测定系统
X射线量测定系统通过脉冲海分析仪降低散射等误差原因，筛选出Cu的特性X射线，可进行高精度的测定。
6.采用高灵敏度检测器(可支持偏移角大的结晶)
检测器对应检测的X射线(Cu的K α)具有高灵敏度。另外，由于是气体检测器，所以对X射线的入射位置和方向的检测灵敏度的变动很小，对于结晶面的倾斜角的变化可以进行稳定的测量。

晶体方位检测系统的参数：