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zonglen HAST微波器件高加速寿命偏压老化测试系统
微波器件高加速寿命偏压老化测试系统是一种用于评估微波器件在不同条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣环境，以加速器件的老化过程。 参考价￥88888 -
Bias-HAST偏压老化测试系统高加速老化试验箱
偏压老化测试系统高加速老化试验箱，适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。 参考价￥88888 -
zonglenHAST高加速老化试验箱
HAST高加速老化试验箱，HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度:压力的各种条件来完成的，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。相对于传统的高温高湿测试，HAST增加了容器内的压力，使得可以实现超过100℃条件下的温湿度控制，能够加速温湿度的老化效果 参考价￥88888 -
zonglen ECM-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化试验箱
绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化试验箱，ECM-HAST绝缘电阻劣化系统高加速寿命老化，绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验 参考价￥88888 -
zonglenB-HAST偏压老化测试系统高加速老化试验箱
B-HAST偏压老化测试系统高加速老化试验箱，适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。 参考价￥88888 -
zonglen高低温载物台CHUCK
zonglen高低温载物台CHUCK，是一款温度范围为-65℃到200℃气冷型高低温卡盘系统，主要由气冷高低温卡盘和气冷温控器组成。系统具有宽泛的温度控制范围、紧凑的冷却套件、纯空气制冷、高温度精度与稳定性控制等特性，广泛应用于八英寸及以下尺寸的半导体器件或晶圆的变温电学性能关键参数分析，如：功率器件建模测试、晶圆可靠性评估、生产型变温检测，变温光电测试、射频变温测试等。 参考价￥888 -
ATC840Thermo Plate冷热台zonglen
Thermo Plate冷热台zonglen，高低温冷热台是一款常用于实验室、工业生产和科研领域的设备，用于模拟不同温度条件下的环境。其作用是为科学家和工程师提供一个控制温度的平台，以便他们能够研究和测试材料、产品或设备在不同温度条件下的表现和性能。 参考价￥888 -
ATC840zonglen桌上型冷热冲击机
zonglen桌上型冷热冲击机，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。 参考价￥888 -
桌面式快速温变试验机
桌面式快速温变试验机，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。 参考价￥88888 -
zonglen桌面式快速温变试验机
zonglen桌面式快速温变试验机，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。 参考价￥99999 -
ATC840接触式冷热气流式高速高低温环境试验机
接触式冷热气流式高速高低温环境试验机，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。 参考价￥888 -
冷热气流式高速高低温环境试验机
冷热气流式高速高低温环境试验机，是一台精密的高低温冲击气流仪，具有更GUAN泛的温度范围-80℃到+225℃，提供了很强的温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒 ; 经长期的多工况验证，满足各类生产环境和工程环境的要求。TS580是纯机械制冷，WU需液氮或任何其他消耗性制冷剂。 参考价￥99999