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高低温晶圆卡盘三温CHUCK
￥888zonglen三温CHUCK晶圆盘
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￥888zonglen高低温载物台 三温CHUCK
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zonglenHAST测试机高加速老化试验箱
￥88888zonglenHAST加速老化试验机HAST-400
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Bias-HAST偏压老化测试系统高加速老化试验箱
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ATC840Thermo Plate冷热台zonglen
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zonglen桌面式快速温变试验机
￥99999微波器件高加速寿命偏压老化测试系统，
是一种用于评估微波器件在不同条件下 的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实 际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣环境，以加速器件的老化过程。
微波器件高加速寿命偏压老化测试系统
·每颗器件的Vgs独立控制
·实时监测每个试验器件的Id、 Ig
·控制上、下电时序
·全过程试验数据保存于硬盘中， 可输出Excel
·试验报表和绘制全过程漏电流 IR变化曲线
微波器件高加速寿命偏压老化测试系统
测试标准
AEC-Q100 ·MIL-STD-750D ·GJB128 ·JEDEC等标准
