NX2000二手日立 FIB-SEM三束系统NX2000
参考价:¥380000¥5600003369二手50KN英斯特朗拉力试验机3369
¥380000S-3700N二手日立扫描电镜S-3700N
¥380000IM4000二手日立高新离子研磨装置IM4000
¥380000XRF光谱仪二手帕纳科ZetiumXRF光谱仪
¥380000ET 4000L二手日本小坂KOSAKA 台阶仪
¥380000JSM-7500二手日本电子场发射扫描电镜
¥380000MULTISIZER 4E二手美国贝克曼颗粒/细胞计数及粒度分析仪
¥380000XT-6二手德国Nordson X射线探伤仪
¥380000AIM-8800二手岛津显微红外光谱仪
¥380000AGX-X 10KN二手岛津电子拉力试验机
¥380000TM3030Plus二手奥林巴斯电镜 TM3030Plus
¥380000日立 FIB-SEM三束系统NX2000
产品介绍:
追求TEM样品制备工具
在设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为好工具。
近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。
日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及Triple Beam?*1(选配)技术,推出了新一代产品NX2000
产品特点:
运用高对比度,实时SEM观察和加工终点检测功能,可制备厚度小于20 nm的超薄样品
FIB加工时的实时SEM观察*2例
样品:NAND闪存
加速电压:1 kV
FOV:0.6 μm