得乐/teclock 品牌
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所在地
Quickmike 293系列 — IP65 ABSOLUTE数显千分尺MDQ-MX
面议高精度数显千分尺 293 系列 MDH-25MB
面议QuantuMike (快进千分尺) 293 系列
面议293 系列 MDC-MX/MXT/PX/PXT
面议293 系列 — 数显外径千分尺 MDC-MB
面议293 系列 — 数显外径千分尺 MDC-25SX
面议293 系列 — IP54 ABSOLUTE 数显千分尺
面议227 系列 — 测力可变式数显千分尺
面议102 系列 — 外径千分尺
面议326, 126 系列 — 可更换测砧及测微螺杆测量面型
面议116 系列 — 可更换测砧型 MCN
面议324, 124 系列 — 可更换球型测砧及测微螺杆测量面型 GMB-MX · GMB
面议日本得乐TECLOCK测厚规SM-112
品牌:TECLOCK(日本得乐)
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
测量范围:0-10mm
最小读数:0.01mm
测量深度:26mm
产品介绍
原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
技术参数:
指式方式:指针式
测量范围:0-10mm
最小读数:0.01mm
测量深度:26mm
体积大小:(W*D*H)87*23*105mm
重量:150g
型号 | 精度 | 测定范围 | 测定力(N.gf) | 短针 | 测定子形状(上) | 测定子形状(下) |
SM-112 | 0.01 | 10 | 2.5(250) | 有 | φ10平 | φ10平 |
SM-112LS | Sφ3.2(1/8) | φ10平 | ||||
SM-112LW | Sφ3.2(1/8) | Sφ3.2(1/8) | ||||
SM-112-3A | φ5平 | φ5平 | ||||
SM-528 | 0.01 | 20 | 3.5(350) | 有 | φ10平 | φ10平 |
SM-528LS | Sφ3.2(1/8) | φ10平 | ||||
SM-528LW | Sφ3.2(1/8) | Sφ3.2(1/8) | ||||
SM-528-3A | φ5平 | φ5平 | ||||
SM-114 | 0.01 | 10 | 2.5(250) | 有 | φ10平 | φ10平 |
SM-114LS | Sφ3.2(1/8) | φ10平 | ||||
SM-114LW | Sφ3.2(1/8) | Sφ3.2(1/8) |
1. 用途:
测厚规主要用于测量纸张、皮革、橡胶、织物及各种金属板材、玻璃板等的厚度。
2. 结构原理:
测厚规是用于测量固定于表架上的指示表测头测量面相对于表架测砧测量面的直线位移量(厚度),并由指示表进行读数的测量器具
4. 示值误差的检定:
测厚规示值误差的检验是将3级量块置于测厚规的两测量面之间,指示表的指示值与量块尺寸之差即为示值误差。各点示值误差应符合表2规定。该项检验至少应在测量范围内均布的四个位置上进行。推荐检验测厚规示值误差的量块尺寸为2.2, 4.5, 7.7, 10mm。
5. 使用与保养:
1、使用时应避免指示表的剧烈冲击,以免影响读数准确。
2、使用前应将两测量面擦干净并调表到0位,即可直接测量读取被测工件的实际尺寸。
3、测量完后应将两测量面擦净并涂防锈油,再把测厚规放入包装盒中。