蔡司/ZEISS 品牌
代理商厂商性质
所在地
蔡司三坐标测量机PRISMO navigator
面议桥式三坐标测量机ACCURA 2000
面议蔡司三坐标测量机 ACCURA三坐标测量仪
面议材料显微镜 Axio Lab.A1
面议DuraMax在线式三坐标测量机
面议研究级正置式智能数字材料显微镜Axio Imager A2m
面议蔡司体视显微镜 Stemi DV4
面议研究级体式显微镜 SteREO Discovery. V8
面议研究级智能数字全自动立体显微镜 SteREO Discovery.V12
面议研究级智能数字全自动立体显微镜 SteREO Discovery.V20
面议研究级正立材料显微镜 Axio Scope
面议智能材料显微镜 Primotech
面议
世界光学品牌,可见光学和电子光学的。其电子光学前身为LEO(里奥),更早叫Cambridge(剑桥)和ZEISS。1965年推出一台商业化扫描电镜;1985年推出一台数字化扫描电镜。EVO系列电镜是高性能、功能强大的高分辨应用型扫描电子显微镜。MA 10用于材料领域,LS 10用于生命科学领域。该系列电镜采用多接口的大样品室和艺术级的物镜设计,提供高低真空成像功能,可对各种材料表面作分析,并且具有业界的X射线分析技术。革命性的Beamsleeve的设计,确保在低电压条件下提供高分辨率的锐利图像,同时还可以进行准确的能谱分析。样品台为五轴全自动控制。标准的高效率无油涡轮分子泵能够满足快速的样品更换和无污染(免维护)成像分析。
用途:
扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析,各种材料的形貌组织观察,材料断口分析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体、晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量。
技术参数:
分辨率:10nm @ 3KV(SE with W) 3.0nm @ 30KV(SE and W) 4.0nm @ 30KV(VP with BSD)
加速电压:0.2—30KV
放大倍数:7—1000000x
视野范围:6mm
X-射线参数:8.5mm WD,35度接收角
压力范围:10—400Pa(LS10:10-3000Pa)
工作室:310mm(φ)×220mm(h)
5轴优中心自动样品台:X=80mm Y=100mm Z=35mm T=-10-90°R=360°
试样高度:100mm 试样直径:200mm
系统控制:基于Windows 7 的SmartSEM
主要特点:
可变压力下操作
超大移动平台
快速抽真空
未来的保证,可升级为水蒸气扩展图像
高亮度LaB6资源选择
光线套选择
技术优势:
通过网络可远程控制
可移动大平台
通用图像处理
改进了低真空图像
业界的X-射线分析技术