508PV显微镜光谱仪是为了将的光谱探测，彩色成像，薄膜厚度测量，色度测量功能添加到显微镜或探针台而设计的。它也可以升级成一个配备了的光学器件，电路设计和操作软件的显微分光光度计。

508PV附着在一个打开的照相接口上，可用于收集显微样品的透射，反射，偏振，甚至荧光和冷光光谱。搭载CRAIC的Lightblades光谱技术，508PV的可用光谱范围涵盖了从紫外到近红外。使用508PV，用户可以快速，无损，便捷的获得亚微米样品的高质量光谱。

508PV显微镜光谱仪是诸如平板显示像素色度测量，煤镜质组和源岩反射测量，光学器件和半导体的薄膜厚度测量等多种应用的理想选择。508PV也是一个将旧显微分光光度计升级至硬件的高性价比途径。

主要特性：

Ÿ 配备Lightblades分光光度计，专为显微光谱设计

Ÿ 用户选择光谱范围从深紫外到近红外

Ÿ 光谱范围250nm-2100nm

Ÿ 校准，变量测量区域小到一微米以下

Ÿ 热电制冷以提高信噪比和长期稳定性

Ÿ 高分辨率彩色成像，提升至五百万像素

Ÿ 配备Lambdafire光谱和成像控制分析软件，Lambdafire也包括触摸屏控制。

Ÿ 紫外-可见-近红外透射显微光谱

Ÿ 紫外-可见-近红外反射显微光谱

Ÿ 紫外-可见-近红外荧光显微光谱

Ÿ 薄膜厚度测量

Ÿ 显微样品的色度测量

Ÿ 结合rIQ进行折射率测量

Ÿ 自动化运行

Ÿ 样品温度的精确控制

Ÿ 专业的软件模块，包括统计分析，光谱数据库，成像分析等

Ÿ NIST可追溯显微分光光度计标准

Ÿ 易于使用和维护

Ÿ 来源于显微光谱领域专家

紫外-可见-近红外显微光谱

为您的显微镜增加一个光谱仪

508PV是一个光谱仪，集成了一个成像系统，它可通过一个照相接口，添加到微镜或探针台中。508PV可配置工作范围从深紫外到可见到近红外，这个强有力的工具给系统赋予新的功能，包括膜厚度测量和色度测量。508PV搭载Lightblades技术，即便尺寸在亚微米样品的透射，反射，偏振，荧光光谱也能测量。

荧光

显微荧光测定

进对508PV进行一定配置，可获得显微样品的荧光和冷光光谱和成像。搭载Lightblades技术，从深紫外到近红外的荧光和冷光光谱的测定能力，使得508PV成为材料科学，生物，地理等学等学科中测量显微荧光的有力工具。

偏振显微光谱

对508PV进行一定配置，可获得显微样品的偏振光谱。搭载Lightblades技术，使得508PV偏振显微光谱仪可快速便捷的获得具有双折射或其他类型偏振特性的样品的光谱。

光谱表面Mapping绘图

结合硬件和软件对具有微观空间分辨率的样品进行自动光谱分析，可生成样品的吸收，透射，反射，荧光，发射和拉曼光谱的5D绘图。

成像&显微镜

508 PV™具有高分辨率，彩色数字成像与复杂的软件。它可以让你同时看到分光光度计的入口孔径和样品。这使得在任何测量条件下都可以很容易地对齐测量用的样本并捕获全彩图像。

应用

Ÿ 半导体膜厚

Ÿ MEMS器件

Ÿ 表面等离子体共振

Ÿ 光子带隙晶体

Ÿ 过程杂质检测

Ÿ 蛋白质晶体

Ÿ 法医学

Ÿ 药物化学

Ÿ 可疑文件

Ÿ 有机发光器件

Ÿ 平板彩色面具

Ÿ 组合化学

支持

CRAIC Technologies为的CRAIC设备提供服务和支持。CRAIC Technologies服务工程师对CRAIC Technologies产品提供的设备修理，维护，培训和技术支持。