highLIGHT 高分辨XUV / SXR 光谱仪

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参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-08-23 12:27:36
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北京光量科技有限公司

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产品简介

显著优势：光谱仪特征：Flat-fieldgrazing-incidencespectrograph；灵活选择探测器：Flexiblechoiceofdetectors:x-rayCCD-cameraorMCP/low-noiseCMOScamerasystem支持模块化设计匹配不同的实验场景

详细介绍

  • 显著优势：
  • 光谱仪特征：Flat-field grazing-incidence spectrograph；
  • 灵活选择探测器：Flexible choice of detectors: x-ray CCD-camera or MCP/low-noise CMOS camera system
  • 支持模块化设计匹配不同的实验场景。
  • 狭缝对于信噪比的优化：狭缝的特殊支持和可变的滤波单元。

特点

  • l  平场掠入射光谱仪

  • l  波长范围：极紫外（XUV）光栅 5~90nm，软X射线（SXR）光栅1~20nm

  • l  探测器的灵活选择：X射线CCD摄像机或 MCP / 低噪声CMOS摄像机系统

  • l  工作压力<10-6mbar，可选配用于独立真空操作的无油泵系统

  • l  可根据用户要求定制






【产品规格参数】



SXR+光栅

SXR 光栅

XUV 光栅

波长，nm

1-5

1-20

5-90

操作模式

狭缝

无缝

无缝

光源距离，m

灵活

灵活

灵活

波长，nm

1-5

1-10

5-20

5-30

25-60

30-90

平面场尺寸，nm

60

90

90

90

85

110

色散，nm/mm

0.06

0.07-0.15

0.11-0.21

0.23-0.38

0.33-0.52

0.38-0.68

分辨率，nm

＜0.001

＜0.005

＜0.008

＜0.015

＜0.021

＜0.026

* 其他配置（光谱范围，狭缝操作等等）可根据要求提供


下图用highLIGHT SXR+在2.88nm（430eV，过渡1s2-1s2p）处对nitrogen谱线进行发射光谱测量。半高全宽是CCD相机的1.74像素（13μm像素大小），分辨率为1890。受探测器限制的分辨力是3290。（数据由德国哥廷根激光实验室的K. Mann 博士提供）

image.png

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