• 新型的TXS光谱仪可在HHG光束（高频光束）、X射线自由电子激光器和台式X射线激光器上进行准确的光子诊断。(HHG beamlines, X-ray freeelectron lasers, and table-top X-ray lasers)
  
• 对 X 射线光谱进行指纹识别以进行在线光束表征，透射光束保持不受干扰，透射率大于 90%，以便进一步用于实验(In von Hamos geometry with high-efficiency backscattering)。
• 单次可测量2 keV 和 4 keV 之间的光子能量。

通过简单地将反向散射探针与材料样品交换，hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱测量（XES）。

软X射线范围提供了对许多材料的化学状态的高灵敏度通道，例如，在2kV下对硫的研究为电池研究提供了重要的参考。

X-ray absorption spectroscopy (XAS) at the sulfur K-edge (data courtesy of Dr. W. Malzer, TU Berlin)