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2C硅钢片铁损测试仪使用说明

时间:2022-09-11      阅读:172

一、设备概要
本装置是用于电气铁板(硅钢片)的铁损测试,是继日本同型号DAC-IR-2后开发的新机种。具有携带方便、测试简便、重复性好等特点。只要将探头置于被测试片上,便能以W/kg的形式测得该试片之铁损值, 并以数字方式显示。成品/材料均可使用。对热处理或冲压前的整张硅钢片,可以裁下20x20mm以上面积的单片局部或将卷板放置平整测试;硅钢片成品则按不同形状的有效宽度或有效面积测试。仪器的校准简单方便。

二、产品应用范围
○硅钢片的进、出料试验.
○锻烧过程中的品质控制.
○矽钢片的品质管理等.

三、产品的主要特点
* 非破坏性的测量方式,且能直接读取其铁损值.
* 铁损值以W/kg显示方式.
* 采用触摸式数码设定开关,操作方便、明了.
* 探头离开试样时自动停止测试,避免长时间工作.
* 利用标准铁板利于探头的校准.

* 自动控制磁通密度.
* 抗电源杂讯功能强,无须使用AC稳定电源.
* 只需要一个测试探头,可适应各种试样的厚度和宽度.
四、产品测试原理
将绕有激磁线圈和磁束检出线U型磁铁置于被测试样上即开成闭合磁路。如果该U型磁铁的磁路断面 面积比试片内磁路断面面积大许多时,则激磁线圈加电压时所产生的激磁电流与磁通检出线圈上产生的电 压乘积即为试片内之损耗。本测定器备有试片厚度和测定用磁能密度选择开关,选择、设定后,试片的铁 损值便可立即读出。铁损值可由此式得知:铁损=试片内损耗/试片内磁路部分的有效重量
各种成品硅钢片示意图
试片内磁路部分的有效重量为试片厚度、试片内磁路面积与试片密度的算术乘积。而本装置的内置磁 路宽度与长度已固定,只需设定板厚与磁通密度即可测定铁损。
五、产品技术参数:
测量范围: 0.10-19.99 W/kg.
磁通密度: 按国家标准1.5 Tesla(无取向)、1.7 Tesla(取向). 试片厚度: 0.10mm-0.99mm
试片宽度: 5mm以上(保证精度).*小可测试2mm宽度。
测量对象: 电气钢板及硅钢片铁芯,包括无取向(Non Oriented)和有取向(Grain Oriented). 测量精度: ±5% (和标准的叠片电流爱泼斯坦方法比较).
测量频率: 50Hz (与电源频率同步)

使用电源: 可选择设定100V 或220V

±10%。*大消耗电力15VA.

尺寸重量: 尺寸W190mm x H105mm x D295 mm;重量约4.5公斤

六、操作注意事项
(1)本测试仪是对钢板的局部进行测试, 和实际钢厂的出厂标准数据多少有些差异。为了能获取更准确 的测试数据,*好实行多点测试,取其平均值。对于面积较小的样品测试时,采用多片测试取 平均值。
(2)在进行10-20分钟的安定化处理后,再放置探头,经过1-2秒钟后,磁通密度由测试仪内部自 动控制即处于安定状态,此时读出的磁通密度为试样每公斤的铁损值。


备注:若需要详细的操作说明,可直接下载或者来电来函索取,谢谢!



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