Elcometer 224表面粗糙度仪-整体式E224C-BI

Elcometer 224 提供了新的表面粗糙度测量技术，测量平面或曲面上 的粗糙度。
快速可靠的峰谷表面粗糙度测量
**测量平面或曲面上的表面粗糙度可达500μm (20mils)
测量平均峰谷和平均*大峰谷高度
便携，坚固的手持设计非常适合现场使用
 
界面友好
大按键，即使戴上手套也可方便操作
多语言菜单设置
高对比度彩色LCD，并带有自动旋转功能
高，低限值指示标志
工厂已校准，拆包即用

准确
符合多项国家和国际标准
热稳测量
即时计算，并显示统计
现场数据读数图表格式，进行即时分析
测量**度±5%

可靠性
重复性和再现性测量
年主机保修期
提供全套可追溯检验证书
批组和单个读数带有日期和时间戳

坚硬的
密封，耐用，抗冲击性强
防尘防水，防护等级相当于IP64
适合在恶劣环境下使用
显示器抗划性及防溶剂性强
仪器及探头结构持久耐用

高效
快速读数，每分钟可读取50多个读数
整体式和分体式探头，满足您的应用需求
字母数字组合命名数据组
与ElcoMaster®和ElcoMaster®移动应用程序兼容
带敲击唤醒功能的省电模式
每次测量选择5或10个读数

功能强大
碳化钨笔尖, 坚固耐用，用户备用—*多测得 20,000个读数
USB和Bluetooth®数据输出到iPhone1或 Android™设备
存储多达2,500批 次，150,000个读数
测量粗糙度值*高达500μm (20mils)
回放图表格式的数据组或*后20个读数
整体式和分体式探头选项 , 用于平面和凸1面

标准:
ASTM D 4417-B, SANS 5772, SSPC PA 17, US Navy NSI 009-32, US Navy PPI 63101-000

Elcometer 224表面粗糙度仪-整体式E224C-BI