高低温试验箱产品具有模拟大气环境中温度变化规律。主要针对于电工，电子产品，以及其元器件及其它材料在高温，低温综合环境下运输，使用时的适应性试验。用于产品设计，改进，鉴定及检验等环节。

高低温测试箱是用来确定产品在高温或低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性的方法。试验的严苛程度取决于高温或低温的温度和曝露持续时间。高低温测试英文名称High and low temperature test

高低温试验是高温试验和低温试验的的简称，试验目的是评价高低温条件对装备在存储和工作期间的性能影响。高低温试验的试验条件、试验实施、试验步骤在GJB 150.3A一2009《装备试验室环境试验方法高温试验》与GJB 150.4A—2009《装备试验室环境试验方法低温试验》中都有详细的规定。

高低温测试箱设备参数

1。试验设备

高温试验一般是将产品置于恒温箱或恒温室内进行试验。介质的温度用温度计在不同位置测定，取其算术平均值。但要求箱内温度尽可能均匀，通过热空气流动加热产品，不应使试验样品靠近热源。为减少辐射影响，试验箱的壁温不应高于环境温度3%。

低温试验一般在低温箱（室）内进行，其温度一般靠人工制冷的方法获得。在低温箱的有效工作空间内，用强迫空气循环来保持低温条件的均匀性。

2。试验参数

按地区和使用场合不同，GB2423·1一81和GB2423·2—81分别规定了不同温度等级的优先数值。

低温环境温度：一65℃，一55"C，一45"C，一40℃，一30℃，一25℃，一15℃，一10℃，一5℃，0℃，+5℃；

高温环境温度：+200℃，+17S℃，+155℃，+125℃，+100℃，+8S℃，+70℃，+65℃，+60℃，+55℃，+50℃，+45℃，+40℃，+3S℃，+30℃。

温度的允许偏差范围均为±2℃。

在试验样品温度达到稳定后，高、低温条件试验的持续时间根据需要从下列数据中选取：2、16、72、95（h）