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CTNV-5000系列，配备双射线源系统，拥有全面的测试能力，自动切换射线源，可满足样品多样化的测试需求。
● 一键切换射线源
● 强大的测试能力，灵活的配置方案
● 多种扫描模式：螺旋、偏置、有限角等
● 具备强大的扩展能力
分辨率
像素细节分辨能力 | 200nm |
空间分辨率* | 500nm |
X射线源
类型 | 开管反射式 | 开管透射式(微焦点/纳焦点) |
电压 | 300KV/240KV/225KV/190KV/160KV | 240KV/225KV/190KV/160KV |
平板探测器
成像面积 | 427mm×427mm |
像素矩阵 | 3072×3072 |
样品
可检测样品尺寸 | 600mm×600mm(直径×高度) |
样品承重 | 25kg |
设备物理参数
设备尺寸 | 2770mm×1540mm×2040mm(长×宽×高) |
设备重量 | 8000kg |
*空间分辨率可用空间分辨率测试卡进行测试验证
▲ 技术参数为参考指标，更多规格型号，欢迎
 | 原位4D成像 结合原位力学和温度等加载装置，实现4D CT成像。 |
