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武汉市所在地
武汉半导体高低温低气压海拔高度试验箱
型号 | HA252 | HA504 | HA1000 | HA2016 | |||||
| 温度范围 | -70~+150℃ | |||||||
温度波动度 | ±0.5℃(常压空载) | ||||||||
温度均匀度 | ≤2℃(常压空载) | ||||||||
温度偏差 | ±2℃(常压空载) | ||||||||
升温时间(20~+150℃) | ≤60min | ≤60min | ≤50min | ≤60min
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降温时间(20~-60℃) | ≤90min | ≤80min | ≤60min | ≤80min | |||||
气压范围 | 常压~1KPa | 常压~0.5KPa | |||||||
压力精度 | ±2KPa(常压~40KPa时);±5%(40KPa~4KPa时);±0.1KPa(4KPa~1KPa时) | ||||||||
降压速率 | ≤45min(常压→1KPa) | ||||||||
结 构 | 外壳 | 冷轧钢板表面喷塑 | |||||||
内胆 | 不锈钢板 | ||||||||
制 冷 | 制冷方式 | 水冷 | |||||||
制冷机 | 进口压缩机 | ||||||||
观察窗(mm) | 200×300mm(宽×高) | ||||||||
温度传感器 | 铠装铂电阻 | ||||||||
压力传感器 | 硅电阻压力变送器 | ||||||||
控制器 | 西门子PLC模块(含宏展环境试验设备嵌入式PLC控制软件V1501)+7英寸彩色液晶触摸控制屏(含宏展环境试验设备嵌入式触摸屏控制软件V1501) | ||||||||
数据存储与功能接口 | USB数据接口:设备带有USB储存接口,存储信息包括试验时间、试验目标值和试验实测值等主要运行参数,存储格式为.csv格式,此文件可由宏展公司上位机通讯软件直接生成曲线,该USB接口不支持热插拔及下载功能,如要用U盘存储试验数据,需一直让U盘处于正常联接状态; | ||||||||
| D | 600 | 700 | 1000 | 1200 | ||||
W | 600 | 800 | 1000 | 1400 | |||||
H | 700 | 900 | 1000 | 1200 | |||||
| D | 1800 | 2750 | 3250 | 3710 | ||||
W* | 1000 | 1500 | 1400 | 1810 | |||||
H | 1880 | 1900 | 2000 | 2310 | |||||
装机功率 | 19KVA | 19.3KVA | 32.5KVA | 51KVA | |||||
电源 | AC380V 50Hz三相四线制+接地线 | ||||||||
标准配置 | 产品使用说明书1份、试验报告1份、合格证及质量保证书各1份、搁板2块、搁条4根。 | ||||||||
满足标准 | GJB 150.2、GJB 150.3、GJB 150.4、GJB 150.6、GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GB/T 2423.21 | ||||||||
武汉半导体高低温低气压海拔高度试验箱
国防工业,航天工业自动化零组件,汽车部件,电子、电器零组件,塑料、化工业,食品业,制药工业及相关产品在高低温低气压单项或同时作用下,模拟高海拔、高空、(高原地区)气候进行贮存运用、运输可靠性试验,并可同时对试件通电进行电气性能参数的测试。
设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 10586 -2006 湿热试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Db:交变湿热(12h + 12h循环)
GB/T 2423.22-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验N:温度变化
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.2A-2009 实验室环境试验方法 第2部分:低气压(高度)试验
GJB 150.3A-2009 实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.6-1986 实验室环境试验方法 温度-高度试验
*安装湿度模块后,还可满足以下标准:
GJB 150.19-1986 温度-湿度-高度试验
GJB 150.24A-2009实验室环境试验方法 第24部分:温度-湿度-振动-高度试验
GB/T 2423.27-2005电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Z/AMD 低温/低气压/湿热连续综合试验