TAF長度校正實驗室

TAF長度校正實驗室

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具体成交价以合同协议为准
2021-07-21 10:14:21
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源台精密科技股份有限公司

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产品简介

產品介紹A.創立源起用來衡量一個國家開發程度如何,端看其工業化發展的進度,衡量工業科技的發展進度,則需看儀器科技發展的程度,衡量儀器標準則要看其量測追溯是否能與國際標準接軌

详细介绍

產品介紹

A. 創立源起

用來衡量一個國家開發程度如何,端看其工業化發展的進度,衡量工業科技的發展進度,則需看儀器科技發展的程度,衡量儀器標準則要看其量測追溯是否能與國際標準接軌。
源台精密本身是量測儀器的專業製造公司,基於上述之論點本著求真、求善、求美精神,創立了長度校正實驗室,為能與國際標準接軌通過TAF校正實驗室認證。

 

B. 提供之服務

  1. 驗證所開發之儀器精度協助公司研發更高品質儀器
  2. 提供顧客使用源台公司精密量測設備服務的延伸
  3. 進而為提升國內量測技術水準貢獻一份心力

 

C. 品質政策

顧客滿意、永續改善、最適當品質

  1. 顧客為需求之來源,有顧客才能有我們的存在,務必以專業之技術提供周延的校正程序,以公正的報告來達成顧客滿意
  2. 為確保校質,應落實自主檢查,確實依照標準程序執行校正工作,透過定期系統量測不確定度評估計算分析,以維護認證之校質
  3. 依照 ISO/IEC 17025 與 CNLA 相關 TAF 的各項規定,透過品質管理制度追求最適當品質,以達到公司與顧客雙贏的局面

 

D. 校正服務項目

投影儀 ( 光學尺定位型 )

    1. 行程(X、Y軸):250 mm x 150 mm

    2. 倍率:10X、20X、50X、100X

    3. 角度:0?~360?(校正間隔30?)

影像量測儀 ( 光學尺定位型 )

    1.  角度:0?~360?(校正間隔30?)

    2.  行程(X、Y、Z軸):620 mm x 720 mm x 200 mm

 

E. 認可範圍

 

認可項目

校正件

校正方法

範圍

KA4007

投影儀

投影儀

(光學尺定位型)

(含遊校)

 

自訂之投影儀校正程序

(文件編號:CS-CLB-003)

 

1.投影幕≦φ300mm

2.載物台行程(光學尺定位型)

X:0 to 250 mm

Y:0 to 150 mm

3.放大倍率

10倍

20倍

50倍

100倍

4.角度:0° to 360°

 

KA4099

影像量測儀

 

影像量測儀

(光學尺定位型)

(含遊校)

 

自訂之影像量測儀校正程序

(文件編號:CS-CLB-004)

 

載物台行程(光學尺定位型)

使用標準玻璃刻線尺與塊規校正

X:0 to 620 mm

Y:0 to 720 mm

Z:0 to 200 mm

2.角度:0° to 360

 

 

 

F. 量測追溯

 

G. 源台長度校正實驗室量測標準追溯體系圖

 

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