牛津日立镀层测厚仪 快速无损测量
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X-Strata920牛津日立镀层测厚仪 快速无损测量

参考价: 订货量:
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具体成交价以合同协议为准
2021-08-21 11:52:42
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产地:进口;销售区域:全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外;
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产品简介

X-Strata920是牛津公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO 3497,对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析,可用来定量和定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量,多可同时测定24种元素,广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的成分浓度分析。牛津日立镀层测厚仪 快速无损测量会给您带来优质的体验。

详细介绍

牛津日立镀层测厚仪 快速无损测量

镀层测厚仪哪家好,当然是牛津日立镀层测厚仪X-Strata920,X-Strata920是牛津公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO 3497,对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析,可用来定量和定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量,多可同时测定24种元素,广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的成分浓度分析。

一、牛津日立镀层测厚仪特点

测量元素范围:钛Ti-铀U92;
测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X重叠谱线;
测量精度高、稳定性好测量结果精确至uin;
快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;
可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;
进行贵金属检测,如Au kara评价;
材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;
强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、最*值、最小值、数据变动范围、数据编号CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图标、直方图;
结果输出:直接打印或者一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等;
测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍;
激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦;
拥有NIST认证的标准片;
提供各地服务及技术支持。

二、牛津日立镀层测厚仪操作方法

首先:将产品放置在样品台上

无损分析,无需样品制备,开槽式样品仓便于放置产品,超大样品台便于大面积产品(如:PCB)测量,配备了门开闭传感器,增强了安全性

第二步:一键完成视频聚焦

一键自动镭射聚焦,避免人为操作误差标配固定焦距12.7mm,选配变焦,高分辨率、高放大倍率的彩色数码影像装置,画面清晰、测试点精准定位;放大倍数:30倍(标配),50倍(选配)自动台:利用可编程XY样品台和Z轴实现单次或多次分析操作

简单快速的多点分析

第三步:点击”GO”一键完成测量

1.几秒内显示结果

2.保存、打印或传输结果

3.测试结果可一键导出PDF(标配)、Excel(选配)

使用预置和客户自定义的报告模板


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