是德8164B主机是光学元件测试的基础平台

可作为一种是德可调激光源及***多四种紧凑型模块的主机。+B458 8164A光波测量系统

主要技术规格

显示：640 x 480

显示分辨率：0.0001dB/dBm、0.01pW和10pW

触发器：所有通路真正同步

8164B 光波测量系统
主要特性与技术指标
Features
1 Slot for hosting a tunable laser source
4 Slots for hosting power modules, return loss modules, compact tunable lasers or fixed laser sources
Built-in applications: (Passive Component Test, Stability, Logging)
Extended system trigger and clocking system 
描述
是德8164B主机是光学元件测试的基础平台，可作为一种是德可调激光源及***多四种紧凑型模块的主机。+B458 8164A光波测量系统
主要技术规格
显示：640 x 480
显示分辨率：0.0001dB/dBm、0.01pW和10pW
触发器：所有通路真正同步
81642A 可调激光源
主要特性与技术指标
Wavelength Range: 1510nm to 1640nm
Max.Output Power: + 7dBm
Wavelength Accuracy (abs.): ±0.015nm
Wavelength repeatability (typ.): ±0.5 pm
描述
是德81482A可调激光源同时覆盖了C-及L-Band。用高激励功率测试光放大器和测试被动元件。

该是德标有"A"的可调谐激光光源已被81642B取代，但可以升级。

特性：

可在DWDM两个波段中运行（C和L波段）
连续扫描整个波长范围
光学放大器测试高功率光纤输出
内置实时波长表
整个波长范围的免跳模调整
两种光纤输出都配备了Panda型极化维护光纤
主要技术规格

波长范围：1510nm到1640nm
***大输出功率：+7dBm
波长精确度(abs.)：±0.015nm
波长重复性 (typ.)：±0.5 pm
波长稳定性 (typ.)：<±1pm
信号与源的自发发射比率：
≥45dB/nm(1530-1620nm)
信号与所有源的自发发射比率：
≥27dB(typ. 1530-1610nm)