半导体器件I-V测试系统
半导体器件I-V测试系统
半导体器件I-V测试系统
半导体器件I-V测试系统

P系列半导体器件I-V测试系统

参考价: 订货量:
1000 1

具体成交价以合同协议为准
2023-07-11 14:01:05
300
属性:
产地:国产;售后保修期:12个月;销售区域:全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外;工作环境:25±10℃;测试范围:0~300V/0~3A;测试精度:0.03%;
>
产品属性
产地
国产
售后保修期
12个月
销售区域
全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外
工作环境
25±10℃
测试范围
0~300V/0~3A
测试精度
0.03%
关闭
武汉普赛斯仪表有限公司

武汉普赛斯仪表有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

半导体分立器件测试仪之数字源表集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身,广泛用于各类精密器件的测量。支持四象限工作,可作为源或负载。半导体器件I-V测试系统认准普赛斯仪表咨询

详细介绍

半导体电性能测试应用的专业领域十分广泛,分别有:微电子、集成电路、物理与电子工程、航空航天、材料科学与工程、材料与能源、电子科学与工程、光电信息与能源工程等等等...

半导体器件I-V测试系统之数字源表作为电学测量的常用仪器,在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到,源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量,使用非常广泛。 S型数字源表在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能,这些测试功能,令S型触摸屏数字源表具有I-V特性测试系统、曲线追踪仪和半导体分析仪的各种测试能力,而成本更低廉。

数字源表都有哪些应用呢?

实验篇

在实际应用中,不同专业领域所进行的电性能测试实验是不同的,下面就来展示一些典型的实验现象。

I-V特性测试

电流电压我都要,性能测试有一套!


C-V特性测试



输入/输出特性测试

输入特性曲线

输出特性曲线


反向击穿电压测试


讲到这里,小编还是要说一句,半导体电性能测试实验远远不止这些,在各种实验项目中,多功能数字源表不可缺。

普赛斯仪表专注于半导体电性能测试领域,基于高精度数字源表综合实验平台,可提供多种实验测量环境,搭配丰富的测试夹具及实验器材,满足半导体电性能测试需求,提高测试效率。

更多有关半导体器件I-V测试系统的信息认准普赛斯仪表官&网咨询

源表功能图.jpg



上一篇:高温干式计量炉控温稳定,精度高 下一篇:爱泽工业部分到货产品专题及库存——FEIG篇
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话: