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LK-5800TC Type-C数据线综合测试仪研发背景简介:
2015年CES大展上,Intel联合USB实施者论坛向公众展示了USB 3.1的威力,具体搭配的接口是USB Type-C,能够
正反随便插,大小也与micro-USB相差无几。理论上,USB 3.0 Type C的传输速度能够达到10Gbps。
Type-C是USB接口的一种连接介面,不分正反两面均可插入,大小约为8.3mm×2.5mm,和其他介面一样支持USB标
准的充电、数据传输、显示输出等功能。Type-C由USB Implementers Forum制定,在2014年获得苹果、、英特尔
微软等厂商支持后开始普及。
随着Type-C接口的普及,对Type-C数据线的需求日益增多,我们适时推出这款的测试仪器,用于产品量产检
测用以帮助广大厂商提高生产效率,控制好产品质量。
产品特点 PRODUCT FEATURE
采用技术及国内多项自主
可作线材单边、标准、多段和点测功能测试
导通电阻可单独分组设定,单边可点测导通电阻
点测可对单根线灵敏度值及颜色分别设定
电容大可测 500μF,可测电容量及电容正负
短路、断路不良分边精准无误
可对Type-C数据线不分正反快速准确测试
系统整体测试速度较传统同类产品提升一倍
提供*的 USB 及 RS232 接口,并可与 PC 联机操作(定制)
特殊材料与制造工艺,绝缘受潮湿空气影响较小
系统提供统计报表及列印功能
自主软硬体设计,可视客户要求个性化定制其他功能
技术规格 SPECIFICATION
测 量 时 间 Test time | |
断/短路 Open/short | 快速(4ms/次/64点),慢速(8ms/次/64点) |
导通电阻 Cond | 快速55次/秒,中速45次/秒,慢速30次/秒0.2s/32net(标准)参考 |
绝缘电阻Insulation resistance | 一对其它3.6s/64net(0.01s) 二分快速0.4s/64net(0.01s) 0.01秒~60秒可选择设定 |
交流高压AC High Voltage | 一对其它9.5s/64net(0.01s) 二分快速0.9s/64net(0.01s) 0.01秒~60秒可选择设定 |
瞬间/高速短断路 INT Time | 0秒~99秒 设0秒表示无* |
测 试 参 数 Test parameters | ||
项 目Project | 符号Symbol | 测试范围Test range |
断/短路 | O/S | 1KΩ~100KΩ |
导通电阻测试 | COND | 1mΩ~50Ω |
电阻量测 | R | 0.1Ω~10MΩ |
电容量测 | C | 10pF~1000μF |
二管量测 | D | 0.0V~7.0V |
绝缘阻抗 | I.S | 0.1MΩ~1000MΩ |
直流漏电流 | IL | 1μA~1000μA |
高压漏电流 | IL | 0.01mA~5mA |
瞬间导通阻抗 | INT.COND | 1mΩ~50Ω |
快速瞬断 | INT.OPEN | 0.4ms |
瞬间短断路 | INT.O/S | 2ms/64pin灵敏度 |
规 格 说 明 Specifications | |
测试扫描模式 Scan Mode | 自动/手动/连续/外部扫描可切换 |
显示/声警装置Waming device | Pass/Fail LED红绿指示灯/画面显示/声警320*240LCD液晶显示器,蓝/白底可切换 |
存储装置 | 内建512KB SRAM,可扩充1024KB |
尺寸 Size | (W×D×H)425×190×350mm |
重量 Weight | 约14kg(不含配件) |
选 购 指 南 Selection Guide | ||
产品型号 Product Type | 量测点数 Test Points | 量测电压 Test Voltage |
LK-5810N | 64pin | DC:5~1000V |
LK-5810N2 | 128 pin | DC:5~1000V |
LK-5810NA | 64 pin | DC:5~1000V,AC:100~800V |
LK-5810NA2 | 128 pin | DC:5~1000V,AC:100~800V |
LK-5810FA | 64 pin | DC:5~1500V,AC:100~1000V |
LK-5810FA2 | 128 pin | DC:5~1500V,AC:100~1000V |