岛津/SHIMADZU 品牌
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Waveline W920RCWaveline W920RC粗糙度轮廓仪
面议Waveline W820CWaveline W820C粗糙度轮廓仪
面议Waveline W612Waveline W612粗糙度轮廓一体式测量仪
面议Axia ChemiAxia ChemiSEM扫描电镜
面议Verios 5 XHRVerios 5 XHR SEM超高分辨扫描电镜
面议Quattro EQuattro ESEM环境扫描电镜
面议Prisma E环境扫描电镜
面议Prisma EApreo 2 SEM场发射扫描电镜
面议Volumescope 2Volumescope 2 SEM扫描电镜
面议HPE IIHPE II 数显式硬度计
面议Mastersizer 3000E马尔文激光粒度仪Mastersizer 3000E
面议Mastersizer 3000马尔文激光粒度仪Mastersizer 3000
面议快速寻找待测对象——大视野相机和显微镜相机
岛津*的大视野相机和显微镜相机使样品可见观察更为高效。除了10X13mm的超大视野外,大视野相机还提供了数字变焦功能(5倍数字变焦)。而且,通过与显微镜相机共享位置信息,可以实现高达330倍的连续放大,对非常小的样品区域能直接使用30X40μm的小视野进行观察(显微镜相机本身支持10倍数字变焦)。
测量位置自动识别——异物图像识别算法
提供异物自动识别功能。分析人员仅需点击一下按钮,软件即可自动识别异物。并且可在1秒钟之内自动设置好全部测量点适用的显微光阑尺寸和角度。包括两种模式:标准模式和小样品模式。用户可以根据自己的应用来选择合适的模式。自动识别的测量点可不经编辑直接开始自动测量,也可以由分析人员来选择性的增删测量点。样品可见图像自动存入测得的光谱文件中,方便日后快速区分指认。
自动确认异物成分——异物自动分析程序
LabSolutions IR软件提供*的异物分析程序来自动确认异物成分。AIMsolution测得的光谱可以直接载入LabSolutions IR进行分析。异物分析程序可以高精度的确认所测得的异物成分,它基于异物分析中常见异物的谱库数据和岛津*的识别算法。
异物自动分析程序特点
包括550种以上的异物分析中见的无机物、有机物和高分子光谱数据 | 光谱检索、匹配判断和生成报告,全程自动化 | ||
不仅仅是简单的光谱检索,通过岛津*的算法更加注重光谱特征 | 即使异物是混合物,也能够有效指认可能的主要成分和次要成分,并显示可能性优先级 |