FM-Nanoview1000AFM 主要功能特点
- 扫描探头和样品台集成一体，抗*力强；
- 精密激光及探针定位装置，更换探针及调节光斑简单方便；
- 采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描；
- 马达自动脉冲控制驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域精确定位；
- 高精度样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域；
- 带光学定位的CCD观测系统，实时观测与定位探针样品扫描区域；
- 模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护；
- 集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用；
- 弹簧悬挂式防震方式，简单实用，抗*力强。
友好的软件界面和操作功能
1. 多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图；
2. 多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS（f-RMS）、RMS-间隙（RMS-Z）测量功能；
3. 可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域；
4. 可任意选择样品起始扫描角度；
5. 激光光斑检测系统的实时调整功能；
6. 针尖共振峰自动和手动搜索功能；
7. 可任意定义扫描图像的色板功能；
8. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能；
9. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正；
FSM-AFM操作软件主要功能特点
1、可实时观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像；
2、具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式；
3、可自由选择图像采样点为256×256或512×512；
4、多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图；
5、多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS（f-RMS）、RMS-间隙（RMS-Z）测量功能；
6、可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域；
7、可任意选择样品起始扫描角度；
8、激光光斑检测系统的实时调整功能；
9、针尖共振峰自动和手动搜索功能；
10、可任意定义扫描图像的色板功能；
11、支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能；
12、支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正；
13、支持样品图片离线分析与处理功能。
原子力显微镜广泛的应用
技术参数
| 序号 | 名 称 | 参 数 |
| 01 | 工作模式 | 接触、摩擦力(可选配轻敲、相位、磁力、静电力) |
| 02 | 样品尺寸 | Φ≤90mm；H≤20mm |
| 03 | 大扫描范围 | 横向20um，纵向2um |
| 04 | 扫描分辨率 | 横向0.2nm，纵向0.05nm |
| 05 | 扫描速率 | 0.6Hz~4.34Hz |
| 06 | 扫描控制 | XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A |
| 07 | 数据采样 | 14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样 |
| 08 | 扫描角度 | 任意 |
| 09 | 样品移动范围 | 0～20mm |
| 10 | 马达趋近脉冲宽度 | 10±2ms |
| 11 | 光学放大倍数 | 4X |
| 12 | 光学分辨率 | 2.5um |
| 13 | 图像采样点 | 256×256，512×512 |
| 14 | 反馈方式 | DSP数字反馈 |
| 15 | 反馈采样速率 | 64.0KHz |
| 16 | 计算机接口 | USB2.0 |
| 17 | 运行环境 | 运行于Windows98/2000/XP/7/8操作系统 |
