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MP-A2L韩国 MP-A2L磁粉探伤仪
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面议Y-1美国磁通Magnavis Y-1磁轭探伤仪
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面议Y-8广州Magnavis Y-8 磁粉探伤仪
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面议CTS-1008plusCTS-1008plus超声波探伤仪
面议TUD400时代之峰TUD400彩屏超声波探伤仪
面议TIME1120TIME1120超声波探伤仪
面议TUD280TUD280超声波探伤仪
面议TUD290TUD290超声波探伤仪
面议TA620测量平台,TA610测量平台,TA630\\631测量(微调)平台
TA610测量平台,齿条升降,立柱可以随意转动,用来测量不容易放置的工件,可提高测量精度。
TA620测量平台,丝杆升降,平台上设置V型槽,用来测量形状较小的工件,可提高测量平台。
TA630微调平台,X—Y平面转角,俯仰角。
TA631微调平台,X—Y平面转角。
TA630、631都用来较小幅度的,粗确调整被测量工件的位置,提高测量精度。